淺談落下測試規範

這篇有重要..... 不過還是一樣轉的~ http://tw.myblog.yahoo.com/iuutsai2001/article?mid=146&sc=1 -------------------------------------------------------------------------------- 目的： 模擬使用者平時使用產品時（攜帶、放置或使用）之高度，或者工業用、商業用與軍用規範之定義來做為產品自由落下測試的參考依據。並觀察產品在落下後，透過機構件的保護平均分散落下之衝擊，以確保產品之功能完整。 標準： 依據不同產品之功能特性、外觀材質與使用規範，定義不同之落下高度（例如：作用中為70公分與非作用中為90公分）與落下至地面（一般採用水泥地或鋼板為多）後之損傷程度（例如：表面可以刮傷，但不能有零件異位或脫落等破壞結構之現象），唯有產品之主要功能必須完全正常才符合測試標準。 測試方式： 人工方式 - 用手拿著受測設備，讓測試設備在指定的落下方位（例如：上、下、左或右）落下，但人工方式常常會造成最後落下的方位偏移，而產生測試上的誤差。 跌落試驗機臺 - 標準且嚴謹的測試方式，讓每次落下的方位都能精準地與地面接觸，準確地達成實驗目的，產生的結果也具有可靠的公信力。 落下測試標準規範 1. IEC 68-2-32 Test ED：Free Fall 自由跌落，評估試件因不當之處理動作所產生之跌落。（適用於無包裝之裝置及含運輸箱之裝備） 測試步驟： (1) 執行測試前先對受測物件做電器規格及外觀檢視，無異狀方可進行驗證。 (2) 將物件懸吊至預設高度。（高度為受則物件與跌落地面之最近點的距離） (3) 將受測物件自由落下。 (4) 每一規定姿態各執行兩次跌落。（除非受測物件另有規範） (5) 測試後需依相關規範重新檢視受測物件之電器規格及外觀檢證。 測試條件： 跌落面應該為平整、堅硬、剛性之水泥或鐵板，若有需要可在相關規範詳加描述。 自由落下高度應採用下列數值(*表示建議值)：*25mm, 50mm, *100mm, 250mm, *500mm, *1000mm（大型件不適用較高之跌落高度） 跌落次數之決定依相關規範規定，也可採用下列數值：50, 100, 200, 500, 1000 跌落高度為500mm。跌落頻率為每分鐘十次。 重覆性自然跌落，模擬試件可能常常跌落至硬物表面的情況。（適用於連接器或搖控器等之設備） 2. CNS-13215-C6354 Test ED：Free Fall 自由落下，評估試件在包裝或未包裝時，遭受跌落對試件產生之影響。 測試條件： 試驗面應該為平整、堅硬、牢靠之混擬土面或鋼板，必要時可另外規範加描述。 落下方法應使落下瞬間之動搖減至最小，由吊高度自然落下。 落下高度則依受測物件未包裝之不同重量而異，於落下前吊高時，其離試驗面最近部份之高度，例如： 5kg ＜受測物之重量≦10kg，落下高度為 250mm。 2kg ＜受測物之重量≦5kg，落下高度為 500mm。 受測物之重量 ≦2kg，落下高度為1000mm。 測試步驟： (1) 落下前先檢視受測物件之外觀、電氣性能與機械性能。 (2) 依據個別規範之使用姿勢自然落下，每個姿勢各落下兩次。 (3) 驗證完再依個別標準規定檢視受測物件之外觀、電氣性能與機械性能。 重覆自然落下，模擬試件可能常常跌落至硬物表面的情況。（適用於連接器或搖控器等之設備） 3. MIL-STD-810F Test ED：Free Fall 自由落下，強調的重點是要針對設備的整個壽命週期所遇到的環境條件來對環境設計要求和環境試驗要求，確定能再現裝備環境效應的試驗方法來評估設備在包裝或未包裝時，遭受跌落對設備的結構跟功能產生之影響。 測試條件： 試驗面應該為平整、堅硬、牢靠之鋼板。 五個樣本共同使用從26 drops（面、棱線、角）中任選之五個測試項目。 落下高度則依受測物件未包裝之不同重量而異，於落下前吊高時，其離試驗面最近 部份之高度，例如： 受測物之重量≦45.4kg（100英鎊）、最大尺寸小於91公分（36英吋）、則落下高度就是122公分（48英吋）。 受測物之重量≦45.4kg（100英鎊）、最大尺寸大於或等於91公分（36英吋）、則落下高度就是76公分（30英吋）。 業界規範參考 手機 Panasonic，模擬使用者使用之習性，開機，150公分，以每一面、各兩次，落下至水泥地，外觀不能有凹陷或破損、內部結構不可有損壞（含PCB版）、基本功能都要正常。 筆記型電腦 Panasonic，模擬使用者使用之習性，關機/開機，76公分/30公分，底部/26面，各一次，落下至木板 ，外觀不能有凹陷或破損、內部結構不可有損壞（含PCB版）、基本功能都要正常。 外接式硬碟 I-O Data，MIL-STD規範，關機，122公分，26面中選4-6面，各一次，落下至鋼板，保證硬碟、資料與外殻結構都不會損壞。 其它裝置 RFID Reader(RI-R165)，模擬使用者使用之習性，關機，100公分，正／反面各兩次，落下至鐵板，本體構造沒有破損、基本功能都正常。 業界常用的落下測試方式 使用專業之落下測試機台，利用較強且精密的結構支撐與夾具來執行落下測試，可任意調整不同的方向（角、棱、面）來進行測試，跌落地面也可因應不同規範隨時換裝不同的材質（水泥板、木板、鋼板或地毯等），且落下之方式，亦可決定落下後自由彈跳至靜止為止，或是單次落地撞擊，以海綿防護翻轉與彈跳之撞擊。 測試標準 測試數量： 為求取較高的且依賴的參考數據，至少需有五個樣本參與驗證。 測試環境與方法： 從不同之高度，以不同方位（參考第十二頁）將產品自由落下至平坦且表面積大於受測樣本的水泥地面。 測試週期： 每個樣本均需接受測試方法中至少兩個循環的落下測試試驗。 測試標準： 1. 產品外觀或按鍵不可有任何缺陷、毀損之現象。 2. 產品本身如有冒蓋、電池等裝置，落下後允許脫落，但需可再裝回本體且與本體結合的情況需與落下前一致，不允許其產生外觀缺陷、毀損和功能異常的現象。 3. 基本功能與效能表現均需與落下前一致，不能有表現不彰的現象。 4. 通過上述檢查後，需能輕易地拆解外部機構件與機殻，無任何變形或裂損情形。 落下測試之線上範例 1. Panasonic 筆記型電腦落下測試 http://panasonic.biz/pc/tough/check.html 2. Toshiba 筆記型電腦落下測試 http://dynabook.com/pc/catalog/ss_c/070605rx/rx1_002.htm 3. QSI 手持式終端機落下測試 http://www.qsicorp.com/product/industrial/qterm-g55-droptest.php 4. Amazon Kindle 電子書落下測試 http://revver.com/video/506209/amazon-kindle-drop-test-from-30inch/ 5. iPhone 手機落下測試 (非官方驗證，在1分20秒處) http://www.pcworld.com/video/id,545-page,1-bid,0/video.html# 6. Crown I-Tech Series 音效擴大機 http://www.crownaudio.com/amp_htm/itechdroptestvideo.htm & 為避免洩露公司作業之可能，故只放網路上可以搜尋得到之資料。